新聞資訊開拓創(chuàng)新，高端品質(zhì)，真摯服務(wù)

當(dāng)前位置：主頁 > 新聞資訊

掃描電鏡的電子源類型

掃描電鏡（SEM）的電子源通常有兩種主要類型：

要在臺式掃描電鏡（SEM）中增強(qiáng)樣品的對比度，可以采取以下一些常見的方法和技巧：

選擇適當(dāng)?shù)膾呙桦婄R（SEM）放大倍數(shù)來觀察樣品是非常重要的，因?yàn)樗鼤绊懙綀D像的細(xì)節(jié)和分辨率。

9月10日~15日，IMC20（第20屆國際顯微學(xué)大會）將在韓國釜山BEXCO會議中心召開舉行，澤攸科技將攜一眾先進(jìn)科學(xué)儀器及微納技術(shù)領(lǐng)域行業(yè)解決方案，誠邀您共赴盛會！

掃描電子顯微鏡有多種變種和模式，每種都適用于不同的應(yīng)用和研究領(lǐng)域。

掃描電子顯微鏡（SEM）圖像的獲得速度取決于多個因素，包括以下幾個關(guān)鍵因素：

在掃描電鏡（SEM）中，樣品表面電荷積累是一個常見的問題，它可能導(dǎo)致圖像質(zhì)量下降，特別是在非導(dǎo)電或絕緣性材料上。

獲取和保存掃描電鏡（SEM）圖像通常涉及以下步驟：