PicoFemto透射電鏡原位光電性質測試系統（非定量力+電+光+三維操縱）在標配TEM-STM樣品桿內集成光纖單元，配合外接光譜儀或激光器實現光電測量或者CL測量。

光纖指標

●光纖外徑250um，保證電鏡系統真空指標;

●可選光纖探針、平頭光纖、光纖透鏡；

●可選SMA接頭、FC接頭。

產品特色

●集成光學模塊，可應用于CL光譜、光電探測及電致發光光譜等研究；

●光電一體化解決方案，具有高拓展性；

●高穩定性，保證電鏡原有分辨率；

●很長的壽命：專利技術（專利種類：實用新型（具備高分辨多維操縱和電學測量的電子顯微鏡原位樣品桿） 專利號：202020944865 .4）的“爪-球”結構探針桿因其獨特的結構設計，是公認皮實耐用的探針桿；

●很低維護成本：設備配套的針尖制備系統可低成本制備針尖耗材?！弊?球“微動結構已實現模塊化量產，維護成本低；

●很大的用戶群：在國內擁有近200個高質量原位用戶，出口到歐美澳等地。每年，用戶會產出大量高質量研究成果。定期組織各類用戶交流活動，搭建學術平臺供用戶交流；

●成熟的技術支持網絡：在安徽、北京、東莞和上海擁有分公司，其他各地擁有若干技術支持網點，24小時提供技術支持。

應用領域

部分國內用戶

以上就是澤攸科技對透射電鏡原位光電性質測試系統的介紹，關于整套系統價格請咨詢15756003283（微信同號）。