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PicoFemto原位MEMS-STM-TEM多場測量系統

PicoFemto原位MEMS-STM-TEM多場測量系統,原位透射電子顯微鏡實驗系統,使研究者可以在透射電子顯微鏡中構建一個可控的多場環境(包括力、熱、光、電等),價格請咨詢18817557412(微信同號)

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    PicoFemto原位MEMS-STM-TEM多場測量系統,該產品是原位透射電子顯微鏡實驗系統,使研究者可以在透射電子顯微鏡中構建一個可控的多場環境(包括力、熱、光、電等),從而對材料或者器件等樣品實現多重激勵下的原位表征。 

    性能指標

     透射電鏡指標:

    ● 兼容指定電鏡型號及極靴;

    ● 可選雙傾版本,雙傾電學測量樣品桿Y軸傾角±25°(同時受限于極靴間距);

    電學測量指標:

    ● 包含一個電流電壓測試單元;

    ● 電流測量范圍:1 nA-30 mA,9個量程;

    ● 電流分辨率:優于100 fA;

    ● 電壓輸出范圍:普通模式±10 V,高壓模式±150 V;

    ● 自動電流-電壓(I-V)測量、電流-時間(I-t)測量,自動保存。

    掃描探針操縱指標:

    ● 粗調范圍:XY方向2.5 mm,Z方向1.5 mm;

    ● 細調范圍:XY方向18 um,Z方向1.5 um;

    ● 細調分辨率:XY方向0.4 nm,Z方向0.04 nm。

    光纖指標:

    ● 多模光纖外徑250 um,保證電鏡系統真空指標;

    ● 可選光纖探針、平頭光纖;

    ● 配備快速SMA接頭、FC接頭;

    加熱指標:

    ● 溫度范圍:室溫到1000 ℃;

    ● 溫度準確度優于 5% ;

    ● 溫度穩定性:優于±0.1 ℃。

    應用場景

     可通過簡單更換MEMS芯片種類以及不同STM探針為樣品施加至多四種激勵,實現多種復雜的測試功能,完成以往無法實現的研究。

    (1)高溫拉伸/壓縮(加熱芯片+電學STM探針);

    (2)熱電子發射/場發射(加熱芯片+電學STM探針);

    (3)三端器件測量(電學芯片+電學STM探針);

    (4)電致發光現象研究(電學芯片+光學STM探針);

    (5)光電現象研究(電學芯片+光學STM探針)。

    產品特色

    穩定性高

    輕松獲得大幅度運動中的高分辨像,適用于更廣泛的應用場景和樣品體系。

    很長的壽命

    專利技術(專利種類:實用新型(具備高分辨多維操縱和電學測量的電子顯微鏡原位樣品桿) 專利號:202020944865 .4)的“爪-球”結構探針桿因其獨特的結構設計,是公認皮實耐用的探針桿。

    很低維護成本

    設備配套的針尖制備系統可低成本制備針尖耗材。”爪-球“微動結構已實現模塊化量產,維護成本低。

    很大的用戶群

    在國內擁有近200個高質量原位用戶,出口到歐美澳等地。每年,用戶會產出大量高質量研究成果。定期組織各類用戶交流活動,搭建學術平臺供用戶交流。

    成熟的技術支持網絡

    在安徽、北京、東莞和上海擁有分公司,其他各地擁有若干技術支持網點,24小時提供技術支持。

      部分國內用戶

      部分國內用戶.jpg

      部分國外用戶

      部分國外用戶.png

    以上就是澤攸科技PicoFemto原位MEMS-STM-TEM多場測量系統的介紹,關于整套系統價格請咨詢15756003283(微信同號)

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