掃描電鏡（SEM）樣品的傾斜角度對圖像質量有顯著影響。樣品的傾斜角度是指樣品表面相對于電子束的入射方向所形成的角度。調整傾斜角度可以優化某些成像條件，但也可能引入不利影響。以下是樣品傾斜角度對SEM圖像質量的主要影響及相關因素：

1. 圖像對比度的變化

增強表面形貌對比： 傾斜樣品可以增強表面形貌的對比度。由于二次電子的發射強度與樣品表面法線方向和電子束之間的夾角有關，傾斜樣品會改變表面不同區域的電子發射效率，從而突出表面細節和邊緣。

背散射電子信號的增強： 樣品傾斜會增加背散射電子的發射概率，特別是在高原子序數樣品中。傾斜角度越大，背散射電子的信號越強，從而提高化學成分對比。

2. 圖像分辨率的影響

分辨率下降： 當樣品傾斜時，電子束在樣品表面的實際掃描范圍會拉伸，導致掃描區域的形狀從圓形變為橢圓形。這種拉伸效應會降低圖像的分辨率，尤其是在高傾斜角度下。

景深的變化： 樣品傾斜會改變景深（Depth of Field, DOF）。通常，傾斜樣品可以增加景深，使得表面不同高度的區域同時清晰。但過大的傾斜角度可能導致部分區域超出焦平面范圍，圖像變得模糊。

3. 陰影效應

樣品傾斜會導致電子束無法完全照射到某些凹陷區域或復雜結構中，形成“陰影效應”。這會導致部分區域信號丟失或圖像不完整。

陰影效應在表面起伏較大的樣品上尤為顯著，可能導致某些特征無法被準確觀察。

4. 二次電子和背散射電子信號的分布

信號強度變化： 傾斜角度會影響二次電子和背散射電子的收集效率。二次電子的發射主要集中在樣品表面的法線方向附近，因此在傾斜狀態下，靠近電子探測器的表面區域會產生更強的信號，而遠離探測器的區域信號會減弱。

信號不均勻性： 由于探測器的空間位置固定，樣品傾斜會導致信號分布不均勻，可能引起圖像的亮度變化或對比度失衡。

5. 形變與失真

幾何失真： 傾斜樣品會改變電子束在樣品表面的投影比例，導致圖像的幾何失真。例如，樣品表面在電子束掃描方向上的尺寸會被拉伸，從而影響圖像的真實比例。

非線性失真： 高傾斜角度下，特別是在邊緣區域，電子束入射角的變化可能引起非線性失真，使得圖像看起來扭曲。

6. 電荷積累與偽影

電荷積累： 對于非導電樣品，傾斜角度的增加可能改變電荷分布，導致某些區域的電荷積累加劇，從而產生偽影或圖像模糊。

偽影與噪聲： 傾斜角度過大可能會引入其他信號干擾，如反射信號的不均勻性或樣品表面局部的電荷積累，進而降低圖像質量。

7. X射線信號的變化

空間分辨率降低： 在傾斜狀態下，X射線信號的采集區域會被拉伸，可能降低空間分辨率。

元素分析優化： 適當傾斜樣品可以提高特定區域的X射線發射效率，從而增強能譜分析的靈敏度。

8. 樣品損傷的可能性

傾斜角度會改變電子束與樣品表面的相互作用區域，從而影響樣品的熱效應和電荷積累。如果傾斜角度過大，可能會導致局部區域受到過度轟擊，損傷樣品表面。

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