在掃描電子顯微鏡中，電子束與樣品之間存在多種相互作用，這些相互作用產(chǎn)生的信號(hào)被用于生成樣品表面的圖像。以下是主要的電子束與樣品相互作用過(guò)程：

彈性散射：

這是基本的相互作用過(guò)程，其中入射的高能電子與原子核或電子云相互作用，導(dǎo)致電子的方向發(fā)生改變，但其能量保持不變。這不會(huì)直接產(chǎn)生圖像，但可以提供有關(guān)樣品的一些結(jié)構(gòu)信息。

非彈性散射：

在非彈性散射中，入射電子與樣品中的原子或電子發(fā)生相互作用，導(dǎo)致電子喪失或獲得能量。這些能量損失的電子稱為散射電子，它們可以提供有關(guān)樣品組成的信息。

二次電子發(fā)射：

當(dāng)高能電子與樣品表面原子相互作用時(shí)，可能會(huì)引起表面原子中的一個(gè)或多個(gè)電子被釋放出來(lái)，形成稱為二次電子的電子。這些二次電子是生成SEM圖像的主要信號(hào)。不同材料的表面形貌差異可以通過(guò)捕捉和檢測(cè)二次電子來(lái)可視化。

反射電子：

部分入射電子可能會(huì)經(jīng)歷彈性散射并以較高的能量返回，這些被稱為反射電子。這些電子的能量與樣品的原子序數(shù)有關(guān)，因此可以提供有關(guān)樣品組成的信息。

這些相互作用過(guò)程產(chǎn)生的不同信號(hào)通過(guò)探測(cè)器捕獲，并轉(zhuǎn)換成電信號(hào)，然后用于生成圖像。通過(guò)掃描電子束并記錄不同位置的信號(hào)，可以形成高分辨率的表面形貌圖像。這種圖像提供了關(guān)于樣品表面微觀結(jié)構(gòu)和組成的詳細(xì)信息。

ZEM20臺(tái)式掃描電鏡

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