避免或減輕掃描電鏡樣品制備過(guò)程中的偽跡和偽影是確保獲得高質(zhì)量顯微圖像的關(guān)鍵步驟。以下是一些建議：

樣品制備技術(shù)： 選擇適當(dāng)?shù)臉悠分苽浼夹g(shù)，確保樣品的制備過(guò)程不會(huì)引入額外的偽跡。這可能涉及到使用適當(dāng)?shù)墓潭▌⒚撍颓謇聿襟E。

盡量避免表面污染： 確保樣品表面干凈，避免灰塵、油脂或其他雜質(zhì)的附著。使用清潔工具和實(shí)驗(yàn)室設(shè)備，避免手觸摸樣品表面。

避免靜電吸附： 靜電吸附可能導(dǎo)致樣品表面附著微小的顆粒或灰塵，產(chǎn)生偽跡。使用抗靜電處理方法，如放電設(shè)備或抗靜電涂層，以減輕這種效應(yīng)。

適當(dāng)?shù)慕饘偻繉樱?對(duì)于非導(dǎo)電樣品，可以考慮使用薄的導(dǎo)電金屬層，如金或鉑，以提高導(dǎo)電性并減輕充電效應(yīng)。

避免過(guò)度處理： 盡量避免過(guò)度處理樣品，例如過(guò)度固定或過(guò)度脫水，這可能導(dǎo)致偽影的產(chǎn)生。

選擇適當(dāng)?shù)娘@微鏡參數(shù)： 優(yōu)化掃描電鏡的參數(shù)，包括加速電壓、探測(cè)器類型和放大倍數(shù)，以減少偽影的產(chǎn)生。

定期清理儀器： 定期清理掃描電鏡的樣品舞臺(tái)、探測(cè)器和其他部件，以確保儀器的整潔，并減少可能導(dǎo)致偽跡的因素。

合理的實(shí)驗(yàn)條件： 在適當(dāng)?shù)臏囟群蜐穸葪l件下進(jìn)行實(shí)驗(yàn)，以減少靜電效應(yīng)和其他環(huán)境因素對(duì)樣品的影響。

標(biāo)準(zhǔn)樣品： 使用標(biāo)準(zhǔn)樣品來(lái)驗(yàn)證和調(diào)整儀器參數(shù)，以確保其性能和分辨率。

ZEM18臺(tái)式掃描電鏡

以上就是澤攸科技小編分享的如何避免或減輕掃描電鏡樣品制備過(guò)程中的偽跡和偽影。更多樣品桿產(chǎn)品及價(jià)格請(qǐng)咨詢15756003283(微信同號(hào))。