掃描電鏡（SEM）與傳統光學顯微鏡有一些顯著的不同之處，包括以下幾點：

分辨能力： SEM具有更高的分辨能力，可以觀察到比傳統光學顯微鏡更小的特征和微觀結構。這是因為SEM使用電子束而不是可見光，電子波長遠小于可見光波長。

樣品類型： SEM適用于觀察導電或導體涂層的樣品，因為它需要樣品導電以排除電子束充電效應。傳統光學顯微鏡則可用于各種樣品類型，包括不導電的生物和無機材料。

放大倍數： SEM通常提供更高的放大倍數，可以放大數千至數百萬倍。這使得SEM適用于觀察微小的納米級和亞微米級結構。

深度： SEM通常提供3D表面信息，因為它可以在樣品表面掃描電子束，并根據反射和二次電子發射來創建3D表面模型。傳統光學顯微鏡通常提供2D圖像。

準直性： SEM中的電子束是通過電子透鏡系統進行準直的，因此SEM在觀察非常細小的細節時能夠提供較高的清晰度。

光源： 傳統光學顯微鏡使用可見光作為光源，而SEM使用電子束。這也導致了SEM對真空環境的需求。

成本： SEM通常較傳統光學顯微鏡昂貴，不僅因為其技術要求，還因為其維護和操作成本相對較高。

ZEM20臺式掃描電鏡

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