在掃描電子顯微鏡（SEM）中，可以通過以下步驟計算樣品的實際大小：

獲得像素尺寸：首先，需要知道SEM圖像的像素尺寸，即每個像素代表的實際長度或距離。這通常在SEM設備的規格說明中給出，例如，每個像素可以表示10納米（nm）或其他長度。

測量像素長度：在SEM圖像中，選擇一個已知長度的參考對象，例如標準樣品上的標尺或已知尺寸的微小結構。使用SEM軟件或其他圖像處理工具，測量該參考對象在像素中的長度。

計算實際大小：使用下述公式計算樣品的實際大小：實際大小 = 測量的像素長度 × 像素尺寸

通過測量已知參考對象的像素長度，并乘以像素尺寸，可以得到樣品在實際尺寸上的長度或距離。這種方法可以用于測量SEM圖像中的各種結構、顆粒或特征的實際大小。請注意，這個方法的準確性取決于像素尺寸的準確性和測量的精度。

ZEM15臺式掃描電子顯微鏡

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