掃描電子顯微鏡（SEM）可以觀測不平整的樣品。事實上，掃描電鏡在觀測表面形貌時特別適用于不平整樣品，因為它具有較大的深度聚焦范圍和較大的工作距離。

相比之下，傳統的透射電子顯微鏡（TEM）在觀察不平整樣品時可能會受到限制，因為TEM需要制備非常薄的樣品切片，這對于不平整的樣品可能更加困難。

使用掃描電子顯微鏡觀察不平整樣品時，樣品表面的形貌特征可以被高分辨率地捕捉和顯示。掃描電子顯微鏡通過掃描電子束在樣品表面上的掃描來獲取圖像，從而提供了更大的深度信息和表面細節。

無論是金屬表面、陶瓷材料、生物樣品還是其他不平整的樣品，掃描電子顯微鏡都可以提供詳細的表面形貌信息，幫助研究人員更好地理解樣品的微觀結構和特征。

ZEM15臺式掃描電鏡能譜一體機

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