掃描電鏡（SEM）是一種高分辨率的顯微鏡，可以用于對固體、液體等樣品進行觀察和分析。對于液體樣品，需要滿足以下要求：

低表面張力：液體樣品需要具有低表面張力，以避免液體在SEM真空環境中揮發。

穩定性：液體樣品需要具有較好的穩定性，以避免在SEM觀察過程中樣品形態發生變化。

導電性：液體樣品需要具有一定的導電性，以便在SEM中進行電子束的照射和信號的檢測。

透明性：液體樣品需要具有一定的透明性，以便在SEM中觀察樣品內部的結構。

為了滿足這些要求，通常需要將液體樣品放置在導電性好的載體上，并在SEM操作之前對樣品進行固化或冷凍處理。此外，還需要調節SEM的工作參數，以適應液體樣品的觀察和分析。

ZEM15原位拉伸-掃描電鏡

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