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掃描電鏡如何避免或減少邊緣效應

在掃描電鏡(SEM)中,邊緣效應(Edge Effect)是指當電子束掃描到樣品邊緣時,由于樣品厚度突然變化或電荷積累,導致邊緣區域產生過亮或過暗的現象,影響圖像質量和定量分析的準確性。

MORE INFO → 行業動態 2025-03-03