PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM光電一體測量系統(tǒng)
日期：2019-09-27
透射電子顯微鏡原位TEM-STM測量系統(tǒng)是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元，通過探針對單個(gè)納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行操縱和電學(xué)測量，并可在電學(xué)測量的同時(shí)，動(dòng)態(tài)、高分辨地對樣品的晶體結(jié)構(gòu)、化學(xué)組分、元素價(jià)態(tài)進(jìn)行綜合表征，大大地?cái)U(kuò)展了透射電子顯微鏡的功能與應(yīng)用領(lǐng)域。
透射電鏡原位STM-TEM光電一體測量系統(tǒng)是在標(biāo)配的STM-TEM樣品桿上集成光學(xué)模塊，從而實(shí)現(xiàn)在透射電鏡中進(jìn)行原位光電測量或者光譜學(xué)表征研究。
性能指標(biāo)
透射電鏡指標(biāo)：
● 兼容指定電鏡型號及極靴；
● 可選雙傾版本，雙傾電學(xué)測量樣品桿Y軸傾角±25°（同時(shí)受限于極靴間距）；
● 保證透射電鏡原有分辨率。
電學(xué)測量指標(biāo)：
● 包含一個(gè)電流電壓測試單元；
● 電流測量范圍：１ nA-30 mA，9個(gè)量程；
● 電流分辨率：優(yōu)于100 fA；
● 電壓輸出范圍：普通模式±10 V，高壓模式±150 V；
● 自動(dòng)電流-電壓（I-V）測量、電流-時(shí)間（I-t）測量，自動(dòng)保存。
掃描探針操縱指標(biāo)：
● 粗調(diào)范圍：XY方向2.5 mm，Z方向1.5 mm；
● 細(xì)調(diào)范圍：XY方向18 um，Z方向1.5 um；
● 細(xì)調(diào)分辨率：XY方向0.4 nm，Z方向0.04 nm。
光纖指標(biāo)：
● 光纖外徑250 um，保證電鏡系統(tǒng)真空指標(biāo)；
● 可選光纖探針、平頭光纖、光纖透鏡；
● 可選SMA接頭、FC接頭。
產(chǎn)品特色
（1）采用雙向光纖，可應(yīng)用于CL光譜、光電探測及電致發(fā)光光譜等研究；
（2）光電一體化解決方案，具有高拓展性；
（3）高穩(wěn)定性，保證電鏡原有分辨率。
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作者：小攸