臺式掃描電鏡、原位SEM、原位TEM、臺階儀、二維材料轉(zhuǎn)移臺、納米位移臺、低溫探針臺、掃描隧道顯微鏡、化學氣相沉積系統(tǒng)、光柵尺、壓電物鏡。 

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ZEM系列臺式掃描電鏡

該系列產(chǎn)品融合了多項自主創(chuàng)新核心技術(shù)，兼具很高的成像質(zhì)量和便攜性能，滿足廣泛應(yīng)用需求。

ZEM系列產(chǎn)品集成度高，配置靈活可選。除二次電子、背散射電子等標準探測器外，還可根據(jù)需求集成能譜儀等分析模塊。多種原位樣品臺讓ZEM系列適配各類原位實驗需求，如原位拉伸、高溫、低溫等。

操作方便，學習簡單，非專業(yè)人士也可快速上手。ZEM配套軟件貫穿整個工作流程，從樣品導入、參數(shù)設(shè)置到成像分析，一站式便捷。

目前，ZEM系列已在新材料、新能源、生物醫(yī)藥、半導體等諸多領(lǐng)域展現(xiàn)出強大的分析實力，幫助科研人員直觀觀測微納世界奧秘。憑借性價比，ZEM系列臺掃已然成為高校、研究所和企業(yè)廣泛采用的選擇之一。

PicoFemto原位SEM測量系統(tǒng)

該系列產(chǎn)品是將原位拉伸、納米壓痕、低溫、液體、氣體等多種測試模塊集成進掃描電鏡內(nèi)部，從單一成像設(shè)備升級為多功能復合實驗平臺。

PicoFemto原位SEM測量系統(tǒng)的亮點，就是使用戶能夠在掃描電鏡內(nèi)部進行原位實驗，從而捕捉到樣品在特定條件下的變化過程，這對于研究樣品的動態(tài)行為、相變過程等具有重要意義。

SEM低溫/冷凍真空傳輸系統(tǒng)

這也使得掃描電鏡不再是簡單的表征成像工具，而是功能強大、應(yīng)用前景無限的納米分析平臺。

PicoFemto原位TEM測量系統(tǒng)

該系列產(chǎn)品通過自主研發(fā)的技術(shù)，可在透射電鏡中引入光、電、力、熱、冷凍、液體、氣氛等多種原位狀態(tài)，將您的透射電鏡打造成功能強大的納米實驗室。

PicoFemto原位TEM測量系統(tǒng)的核心優(yōu)勢在于實時原位觀察樣品在真實環(huán)境下的動態(tài)現(xiàn)象，從而觀察材料的變化并進行數(shù)據(jù)分析。目前該系統(tǒng)已在國內(nèi)外高校和研究機構(gòu)投入使用，取得了一系列有影響力的研究成果。

JS系列高精度臺階儀

臺階儀可以對微納結(jié)構(gòu)進行膜厚和臺階高度、表面形貌、表面波紋和表面粗糙度等的測量，在高校、研究實驗室和研究所、半導體和化合物半導體、高亮度LED、太陽能、MEMS微機電、觸摸屏、汽車、醫(yī)療設(shè)備等行業(yè)領(lǐng)域有著廣泛應(yīng)用。

長期以來，這一領(lǐng)域被國外產(chǎn)品壟斷。而澤攸科技自主研發(fā)的JS系列高精度臺階儀，憑借突破性的關(guān)鍵技術(shù)，打破了國外壟斷，是半導體國產(chǎn)化進程中不可或缺的一環(huán)。

JS系列臺階儀的核心優(yōu)勢在于大行程平面掃描、大帶寬大行程納米微動臺、超微壓力恒定控制等自主創(chuàng)新技術(shù)。大行程平面掃描技術(shù)行程55mm，平坦度優(yōu)于20nm，超微壓力恒定控制探針壓力0.5~50mg，大帶寬大行程納米微動臺技術(shù)行程80um，分辨率0.1nm，帶寬10KHz。憑借這些技術(shù)指標，JS系列臺階儀可滿足各類制造環(huán)節(jié)中對表面粗糙度的高要求測量需求。

目前，JS系列已成為半導體、新型平板顯示、光學元件等制造環(huán)節(jié)中重要的質(zhì)量把控工具。澤攸科技還將進一步推進技術(shù)創(chuàng)新，為實現(xiàn)更多關(guān)鍵制造環(huán)節(jié)的國產(chǎn)化貢獻力量。

二維材料轉(zhuǎn)移臺

澤攸科技二維材料轉(zhuǎn)移臺是一種集成了多種功能的實驗裝置，用于制備和轉(zhuǎn)移二維材料樣品。它由氣浮隔震臺、電動位移臺組、加熱旋轉(zhuǎn)臺、真空吸附系統(tǒng)、顯微鏡成像系統(tǒng)等模塊組成，可實現(xiàn)樣品的微米級位移、高溫加熱處理、角度調(diào)節(jié)、真空吸附固定以及高倍顯微觀察，為二維材料的制備、分離、轉(zhuǎn)移等實驗操作提供了完整的解決方案。

納米位移臺

澤攸科技壓電驅(qū)動納米位移臺，使用壓電陶瓷作為運動促動元件，可以在數(shù)百毫米范圍內(nèi)實現(xiàn)亞納米級別的步長，從而解決了傳統(tǒng)納米臺行程小而微米電動臺分辯精度不高的問題。在科研市場、半導體市場、先進制造業(yè)、生物醫(yī)藥行業(yè)、光學、通信等行業(yè)有廣泛應(yīng)用。

探針臺及低溫系統(tǒng)

澤攸科技低溫探針臺是一種廣泛用于研究和測試低溫材料的儀器設(shè)備，包括半導體、MEMS、超導、鐵電子學、材料科學以及物理和光學等領(lǐng)域。它能夠在極低溫環(huán)境下對樣品進行各種物理性能和電學性能測試，為科研工作者和工程技術(shù)人員提供極為重要的測試手段。

掃描隧道顯微鏡

澤攸科技掃描探針顯微鏡（STM）為代表的超高真空設(shè)備廣泛應(yīng)用于科學研究中，主要進行對表面有關(guān)或者在表面發(fā)生的所有物理化學現(xiàn)象進行原子尺度的研究。超高真空低溫（4K）STM系統(tǒng)包含關(guān)鍵技術(shù)如壓電陶瓷步進馬達、低溫STM探頭、超真空液氦雙層杜瓦等。超高真空低溫掃描探針顯微鏡系列產(chǎn)品，除了高性能STM、調(diào)頻AFM、TERS等設(shè)備外，還可將核心部件模塊化，集成化，針對科研用戶，定制開發(fā)所需功能和設(shè)備。

光柵尺

澤攸科技微型超高真空光柵尺，體積小，結(jié)構(gòu)緊湊；適用于超高真空使用；良好的耐高溫性，可達100°C；精度高，精度±3μm（20°C）；采用玻璃柵尺，膨脹系數(shù)小，讀數(shù)穩(wěn)定性良好；分辨率高，配合TF15細分接頭，讀數(shù)分辨率可達4nm；安裝容許公差大（容許誤差±0.1mm）。

壓電物鏡

澤攸科技壓電物鏡采用壓電陶瓷驅(qū)動的納米級物鏡掃描臺，內(nèi)部使用無摩擦及空回的柔性較鏈導向機構(gòu)，確保了掃描臺的運動精度。掃描臺內(nèi)置位移傳感器進行全閉環(huán)的位置反饋定位精度、分辨率和穩(wěn)定性可以達到納米量級，定位穩(wěn)定時間僅為毫秒量級。掃描臺為無磁材質(zhì)，使用過程中不產(chǎn)生磁場同時也不受磁場的影響。聚焦行程可達100微米。分體的螺紋適配器，可適配多種型號的物鏡。

化學氣相沉積系統(tǒng)

澤攸科技多功能電感耦合等離子體增強化學氣相沉積系統(tǒng)（CVD）是用來制備高純、高性能固體薄膜的主要技術(shù)，主要借助微波或射頻的方法將目標氣體進行電離，促進化學反應(yīng)在較低的溫度下進行，從而在基片上沉積出所期望的薄膜。

目前項目團隊自主研發(fā)的CVD設(shè)備可在多種襯底上（如金屬、氧化物、半導體表面）直接生長以石墨烯為代表的各類新型二維材料，用于新材料、新器件的研發(fā)。工藝簡單廉價，且具有傳統(tǒng)半導體生長工藝的兼容性。 

材料科學是推動現(xiàn)代科技進步的重要基石。新材料、新工藝的不斷涌現(xiàn)，為人類社會注入持久動力。而科研儀器設(shè)備是材料研究和創(chuàng)新的重要助力，是推動材料科學不斷突破和發(fā)展的利器。

作為具有完全自主知識產(chǎn)權(quán)的儀器高科技公司，澤攸科技一直堅持自主創(chuàng)新的發(fā)展理念，在多個材料科學領(lǐng)域?qū)崿F(xiàn)了關(guān)鍵核心技術(shù)突破，打造出一系列國產(chǎn)替代的產(chǎn)品，為國家材料科技自主可控貢獻力量。

以上就是澤攸科技小編分享的2024年澤攸精選自研科學儀器清單。更多產(chǎn)品及價格請咨詢15756003283(微信同號)。