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澤攸案例┃ZEM18在半導(dǎo)體行業(yè)中的應(yīng)用

日期:2023-07-19

掃描電鏡是一種廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、半導(dǎo)體工藝等領(lǐng)域的必備工具,它可以通過(guò)探測(cè)樣品表面激發(fā)出來(lái)的電子信號(hào),對(duì)物質(zhì)微觀形貌進(jìn)行表征。在半導(dǎo)體工藝中,掃描電子顯微鏡被廣泛應(yīng)用于器件結(jié)構(gòu)的實(shí)時(shí)檢測(cè)和剖面分析方面,為生產(chǎn)和研發(fā)提供了其他測(cè)試分析儀器所無(wú)法提供的直接測(cè)量信息。

ZEM18臺(tái)式掃描電鏡

ZEM18臺(tái)式掃描電鏡

澤攸科技的ZEM18掃描電鏡,可以實(shí)現(xiàn)高分辨率的表面形貌觀測(cè)、元素分析、晶體結(jié)構(gòu)分析等功能,適用于半導(dǎo)體材料的表征和分析。我們的掃描電鏡可以幫助客戶實(shí)現(xiàn)器件結(jié)構(gòu)的實(shí)時(shí)檢測(cè)和剖面分析,提高半導(dǎo)體器件的制造質(zhì)量和性能穩(wěn)定性。同時(shí)我們也可以為客戶提供完整的解決方案,包括樣品制備、測(cè)試分析和數(shù)據(jù)分析等環(huán)節(jié),為客戶提供更加全面的服務(wù)和支持。

本期內(nèi)容,就讓我們一起來(lái)欣賞ZEM18鏡頭下的半導(dǎo)體世界

液晶顯示器LCD增亮膜檢測(cè)

液晶顯示器LCD增亮膜檢測(cè)

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電子元器件焊點(diǎn)檢測(cè)

電子元器件焊點(diǎn)檢測(cè)

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晶圓雜質(zhì)檢測(cè)

晶圓雜質(zhì)檢測(cè)

晶圓雜質(zhì)檢測(cè)


半導(dǎo)體元器件檢測(cè)

半導(dǎo)體元器件檢測(cè)

以上就是安徽澤攸科技有限公司分享的攸科技將參加第三屆中國(guó)固態(tài)電池技術(shù)創(chuàng)新與產(chǎn)業(yè)化研討會(huì)。更多掃描電鏡價(jià)格及信息請(qǐng)咨詢15756003283(微信同號(hào))

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作者:澤攸科技