如何在掃描電鏡中處理低導電性的樣品

在掃描電子顯微鏡（SEM）?中，低導電性的樣品通常會引發一系列問題，主要是由于電子束與樣品相互作用時產生的電子無法有效地從樣品中逸出，導致樣品表面積累電荷。

掃描電鏡如何分析樣品表面的化學成分

在掃描電子顯微鏡（SEM）?中，分析樣品表面的化學成分通常依賴于能量色散X射線光譜（EDS 或 EDX）或波長色散X射線光譜（WDS）等附加檢測器。

在掃描電子顯微鏡（SEM）?中，工作距離（Working Distance, WD）是指樣品表面到物鏡（聚焦透鏡）的距離。

在掃描電子顯微鏡（SEM）?中，測量顆粒的大小和分布通常需要結合圖像采集和后期圖像處理分析。

在掃描電子顯微鏡（SEM）?中，表面粗糙度的測量可以通過以下幾種方式實現。

優化掃描電子顯微鏡（SEM）?的焦距以獲得清晰圖像是操作SEM時的一個關鍵步驟，通常包括以下幾個方面的操作和調整：

通過掃描電子顯微鏡（SEM）?檢測樣品的孔隙結構是研究材料微觀結構的重要手段，特別適用于多孔材料、巖石、催化劑、陶瓷、聚合物等樣品。

在掃描電子顯微鏡（SEM）?中檢測樣品表面的微裂紋，是研究材料表面缺陷的重要手段。