在臺式掃描電子顯微鏡（SEM）中進行多點成像和分析是一種常見的操作，特別是在需要分析多個感興趣區域或在樣品的不同位置進行比較時。以下是如何在臺式SEM中實現這一過程的步驟：

1. 準備樣品

確保樣品已正確安裝在樣品臺上，并且表面清潔。然后，將樣品臺放置在SEM的樣品腔中，并抽真空。

2. 定位樣品

使用SEM的低倍率模式（通常是SEI模式）來找到樣品的大致位置和感興趣區域（ROI）。然后，可以使用光學顯微鏡功能（如果配備）來進一步調整樣品位置。

3. 設置多點成像

多點成像涉及選擇多個感興趣區域，然后在每個區域上進行成像。以下是具體步驟：

方法1：手動選擇和成像

導航到感興趣區域：使用X-Y樣品臺控制器導航到感興趣區域。

成像：選擇適當的加速電壓、束流強度、工作距離等參數，并進行成像。

記錄坐標：記錄當前樣品臺的X-Y坐標，便于稍后返回此區域。

重復操作：移動樣品臺到下一個感興趣區域，并重復成像步驟。

方法2：自動多點成像（如果SEM支持）

設置自動多點成像程序：一些臺式SEM允許用戶預設多個點的X-Y坐標。通過軟件界面輸入這些坐標，并設置自動成像參數。

執行多點成像：啟動程序，SEM將自動移動樣品臺并在預設點上進行成像。

4. 圖像和數據分析

采集到的圖像可以在SEM自帶的軟件中進行分析。以下是常見的分析操作：

尺寸測量：使用軟件中的測量工具對感興趣區域的特征進行尺寸測量。

成分分析（如果配備EDS）：在每個成像點上執行能譜分析（EDS），獲得樣品成分信息。

表面形貌分析：分析表面結構，識別顆粒、缺陷或其他表面特征。

5. 保存與導出數據

將每個成像點的圖像和分析數據保存到SEM的軟件系統中，或者導出為常見的圖像格式（如TIFF、JPEG）和數據格式（如CSV、Excel）。

6. 創建報告

在完成所有多點成像和分析后，可以使用SEM軟件中的報告生成功能，將圖像、測量數據和分析結果匯總到一個報告中。報告通常可以導出為PDF或其他文檔格式，便于進一步共享和研究。

7. 復核與驗證

在必要時，可以返回特定點重新進行成像和分析，以驗證結果的準確性和一致性。此時，記錄的X-Y坐標可以幫助快速定位之前的成像區域。

以上就是澤攸科技小編分享的如何在臺式掃描電鏡中進行多點成像和分析。更多掃描電鏡產品及價格請咨詢15756003283(微信同號)。