掃描電鏡（SEM）成像在某些情況下可能受到樣品尺寸和形狀的限制，尤其是在一些特殊的樣品幾何條件下。以下是一些可能影響掃描電鏡成像的因素：

樣品尺寸：

小樣品： 對于非導電性的小樣品，可能需要更高的電子束能量，這可能導致較大的充電效應。此外，小樣品的信號可能較弱，需要更長的采集時間來獲得清晰的圖像。

大樣品： 對于大型樣品，可能需要在掃描過程中移動樣品或使用多個掃描區域來獲得整個樣品的圖像。

樣品形狀：

凹陷和孔洞： 凹陷或孔洞的樣品表面可能難以獲得均勻的電子信號，導致圖像中的陰影和失真。在一些情況下，可能需要采用更高的放大倍數來觀察這些特征。

不規則形狀： 不規則形狀的樣品可能需要更復雜的取向角度和多個掃描區域，以獲取全貌圖像。一些樣品可能需要傾斜觀察，使用特殊的樣品支架或樣品制備技術。

導電性： 非導電性樣品可能更容易發生充電效應。在這種情況下，可能需要使用導電性涂層或其他電導材料來減小充電效應。

樣品制備： 樣品的制備過程對于SEM成像至關重要。厚度不均勻的涂層、表面粗糙度、殘留的固體或液體等因素都可能影響圖像質量。

ZEM20臺式掃描電鏡

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