在掃描電子顯微鏡（SEM）中，非導電樣品通常會導致電荷堆積和圖像模糊，因為電子束與樣品相互作用導致電子的發射和堆積。為了在SEM中有效地觀察非導電樣品，有一些處理方法：

導電涂層：

一種常見的方法是在非導電樣品表面涂覆一層導電性材料，如金屬（例如金、鉑）或碳。這樣可以形成一個導電層，有助于消除電荷堆積，并提高電子信號的導電性能。這種導電涂層的方法稱為金屬涂層或碳涂層。

金屬涂層（Sputter Coating）：

利用濺射鍍金屬的方法，將金屬顆粒沉積在樣品表面，形成導電層。這一過程通常稱為金屬涂層或濺射鍍金屬。

碳涂層（Carbon Coating）：

使用碳的蒸發或噴霧沉積的方法，將薄層的碳涂覆在樣品表面。這種方法稱為碳涂層。

金屬導電粘貼劑：

在樣品表面使用導電性粘貼劑，如導電膠，以提高電導性。

減小電子束能量：

減小電子束的能量，以減小與樣品相互作用導致的電荷堆積。這可能會降低分辨率，但有助于避免過多的電子散射。

低真空模式：

在低真空模式下進行觀察，減小氣體分子與電子的碰撞，有助于減小電荷堆積的影響。

樣品冷凍：

冷凍樣品可以減緩電子與樣品相互作用，減小電荷堆積的影響。這種方法通常在冷凍樣品觀察中使用。

樣品預處理：

對樣品進行預處理，如濺射清潔、等離子體清洗等，可以改善樣品的導電性能。

在選擇處理方法時，需要考慮樣品的性質、觀察的目的以及所需的分辨率等因素。不同的樣品可能需要不同的處理方法，而一些方法可能更適用于特定類型的非導電樣品。

ZEM18臺式掃描電鏡

以上就是澤攸科技小編分享的掃描電鏡在非導電樣品觀察中的處理方法。更多掃描電鏡產品及價格請咨詢15756003283(微信同號)。