掃描電鏡的電子束束縛模式，通常稱為束縛模式（或束縛控制模式），是一種操作模式，用于控制電子束的運動以實現不同的成像和分析需求。這個模式允許調整電子束的聚焦、掃描速度、束團大小等參數。

電子束束縛模式的一些常見類型包括：

集中模式：在此模式下，電子束被聚焦到一個小的點上，通常用于高分辨率成像和微區分析。

掃描模式：電子束被聚焦成一個窄的束團，然后以一定的模式（例如線掃描或柵格掃描）移動，以獲取整個樣品的圖像。

聚焦模式：這個模式用于調整電子束的聚焦以適應樣品表面的不平整性。

標幅模式：用于選擇和聚焦電子束以進行特定的分析，例如電子能譜分析（EDS）或電子衍射。

這些模式可以根據不同的掃描電鏡類型和品牌而有所不同，但它們允許操作員根據具體需求來調整電子束的參數，以獲得所需的成像和分析結果。

ZEM20臺式掃描電鏡

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