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臺式掃描電鏡的樣本大小和類型的限制

日期:2023-11-02

臺式掃描電鏡(SEM)通常有一些樣本大小和類型的限制,雖然這些限制因不同型號和制造商而異,但以下是一些一般性的考慮:

樣本大小:臺式掃描電鏡通常適用于較小的樣品。典型的樣品大小范圍可能從亞微米級別到幾毫米。如果樣品過大,可能需要特殊的支架或減小樣品尺寸以適應(yīng)SEM的舞臺。

導(dǎo)電性:臺式掃描電鏡需要樣品具有一定的導(dǎo)電性,以便有效地排除電子束的電荷,并產(chǎn)生高質(zhì)量的成像。非導(dǎo)電性樣品可能需要涂覆導(dǎo)電性材料,如金屬或碳,以進(jìn)行觀察。

真空要求: 操作需要在真空或減壓環(huán)境中進(jìn)行,因此某些樣品可能需要在SEM室內(nèi)進(jìn)行處理。此外,樣品須耐受真空環(huán)境。

干燥和準(zhǔn)備: 濕潤或多孔的樣品可能需要事先干燥和準(zhǔn)備,以確保在SEM中獲得清晰的圖像。此外,一些樣品需要特殊的固定或包埋處理。

透射樣品: 通常用于表面成像,而非透射成像。這意味著只能觀察樣品表面,不能看透或穿透樣品。

樣品形狀: 通常適合于堅(jiān)固和平坦的樣品,不適用于液體或氣體樣品。某些特殊夾具可以用于觀察柔軟或非平坦的樣品。

ZEM20臺式掃描電鏡

ZEM20臺式掃描電鏡

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澤攸臺式掃描電鏡

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作者:澤攸科技