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掃描電鏡的成像參數和縮放功能

日期:2023-10-20

掃描電鏡(SEM)是一種強大的成像工具,可以實現高分辨率的樣品成像。以下是掃描電鏡的一些主要成像參數和縮放功能:

1. 像差和分辨率: SEM的成像分辨率取決于像差校正和系統設計。分辨率決定了您可以觀察和分辨的細節。更高的分辨率通常意味著更清晰的圖像。

2. 縮放:具有廣泛的縮放功能,從宏觀到微觀再到納米尺度,您可以根據需要放大或縮小圖像。這使得SEM在觀察不同尺度的結構和特征時非常靈活。

3. 豁免電壓和工作距離: SEM的電子槍產生的電子束電壓和樣品之間的工作距離可以調整。這些參數的調整影響成像的深度和焦平面。

4. 掃描模式: 可以采用不同的掃描模式,如點掃描、行掃描或圖像掃描。這些模式影響圖像獲取的速度和分辨率。

5. 檢測器: SEM配備不同類型的檢測器,如二次電子檢測器(SE)和反射電子檢測器(BSE)。這些檢測器可以捕獲樣品表面的不同特性和信息。

6. 焦點和孔徑: SEM中的焦點和孔徑設置可影響成像的深度和清晰度。它們可用于優化樣品的表面成像。

7. 動態范圍: 掃描電鏡具有廣泛的動態范圍,可以在成像中處理高對比度的樣品。

8. 深度和切面成像: SEM允許您觀察樣品的三維結構、切面和內部細節,通過取樣和樣品準備可以實現這些功能。

SEM的成像參數和縮放功能使其成為一種多功能的工具,適用于廣泛的應用,從材料科學到生物學和納米技術。通過調整這些參數,用戶可以根據特定的研究需求獲取所需的圖像信息。

ZEM18臺式掃描電鏡

ZEM18臺式掃描電鏡

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作者:澤攸科技