臺式掃描電鏡（SEM）是一種非常有用的顯微鏡，它可以提供高分辨率的表面形貌圖像和材料的電子衍射模式。以下是它們的特點：

顯微圖像： SEM可以通過掃描樣品表面并記錄從電子束樣品相互作用中產生的二次電子、反射電子或透射電子來獲得高分辨率的表面圖像。這些顯微圖像用于觀察樣品的表面形貌、粗糙度、微結構和表面特征。SEM的圖像通常是黑白的，但它們提供了細節和對樣品的深入了解。

電子衍射模式： SEM還可以用于獲取樣品的電子衍射模式。電子衍射是一種利用電子的波動性質來研究晶體結構的技術。通過聚焦電子束，可以獲取樣品中的晶格信息，包括晶格常數和結構定向。電子衍射圖樣通常呈環形或斑點狀，可以用于確定材料的晶體結構。

這些功能使SEM成為材料科學、納米技術、生物學和地質學等領域的重要工具。它可以用于分析材料表面、納米顆粒、細胞結構、金屬晶粒等等。 SEM的顯微圖像和電子衍射模式提供了獨特的信息，有助于研究人員更深入地理解各種樣品的結構和性質。

ZEM20臺式掃描電鏡

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