在掃描電子顯微鏡（SEM）成像中，信號檢測和圖像處理是生成高質量圖像的重要步驟。以下是常用的SEM成像信號檢測和圖像處理方法：

信號檢測：

二次電子（SE）檢測： 二次電子成像是常用的SEM成像模式。用于收集從樣本表面發射出的二次電子信號，其亮度與樣本表面形貌和表面特征有關。

反射電子（BSE）檢測： 反射電子成像側重于檢測從樣本中反射回來的電子，其強度與樣本的原子序數有關。BSE成像提供關于樣本的原子組成信息。

透射電子檢測： 在一些特定SEM系統中，還可以通過樣本的透射電子來獲得有關樣本內部結構的信息。

能譜分析（EDS）： 能譜探測器用于檢測樣本表面激發的特征性X射線，從而提供有關樣本的元素成分的信息。

圖像處理：

噪聲去除： 在SEM成像中，可能會存在一些噪聲或圖像偽影。常用的圖像處理方法包括平滑化、濾波和去噪算法，以減少噪聲并提高圖像質量。

對比度增強： 對圖像進行對比度增強可以使細節更加清晰可見。常用的對比度增強方法包括直方圖均衡化、對比度拉伸等。

圖像配準： 如果需要在不同位置或時間點對樣本進行比較，圖像配準可以將多個圖像對準，以便更好地進行比較和分析。

3D重建： 利用多個SEM圖像，可以進行三維重建，以獲得更全的樣本形貌信息。

圖像測量和分析： 對SEM圖像進行測量和分析，可以得到樣本表面特征的尺寸、形狀、分布等信息。圖像分析軟件通常用于這些測量和分析任務。

偽彩色處理： 對SEM圖像進行偽彩色處理可以幫助更好地區分不同的材料或組織。

ZEM18臺式掃描電鏡

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