通過掃描電子顯微鏡（SEM），可以通過能譜分析（EDS）獲得樣品的局部化學成分信息。EDS是一種常用于SEM的技術，用于確定樣品中元素的組成和分布情況。以下是通過SEM獲得樣品的局部化學成分信息的步驟：

準備樣品： 在進行EDS分析之前，樣品通常需要進行準備工作。對于非導電樣品，可能需要進行金屬涂覆，以提供導電性，確保在SEM中獲得穩定的成像和EDS信號。對于導電樣品，通常可以直接進行分析。

選擇感興趣區域： 在SEM成像中，首先選擇感興趣的局部區域，也就是希望進行化學成分分析的區域。

EDS數據采集： 一旦選擇了感興趣的區域，可以通過SEM系統中的EDS探測器對該區域進行化學成分的數據采集。當高能電子束與樣品表面相互作用時，樣品會發射出特征性X射線，這些X射線的能量與樣品中的元素成分相關。

數據分析和化學成分識別： 采集到的EDS數據需要進行分析和處理。通過比較樣品發射的特征性X射線的能量和強度與標準參考庫中的數據，可以確定樣品中的元素組成。現代SEM系統通常配備了強大的軟件，能夠自動識別元素，并生成化學成分分布圖。

成像和譜圖結合： 在SEM成像中，可以將局部化學成分信息與樣品的形貌結合起來。這樣，可以在同一個圖像中觀察樣品的形貌和局部化學成分分布。

需要注意的是，EDS分析的定量結果通常受到一些因素的影響，例如樣品的形狀和結構、元素的深度分布、X射線的散射等。因此，在進行定量分析時，需要進行相應的校正和考慮這些因素。

通過EDS技術，可以在SEM成像中獲得樣品的局部化學成分信息，從而更全地了解樣品的組成和特性。

ZEM18臺式掃描電鏡

以上就是澤攸科技小編分享的如何通過掃描電鏡獲得樣品的局部化學成分信息。更多掃描電鏡產品及價格請咨詢15756003283(微信同號)。