掃描電鏡樣品制備流程
日期:2023-04-24
掃描電鏡(SEM)是通過(guò)掃描樣品表面并利用電子束與樣品相互作用來(lái)生成高分辨率圖像的一種顯微鏡。樣品制備是獲得高質(zhì)量SEM圖像的關(guān)鍵步驟之一。
下面是一般的掃描電鏡樣品制備流程:
樣品收集和處理:根據(jù)研究目的,從原始樣品中選取適當(dāng)?shù)膮^(qū)域,通過(guò)化學(xué)或物理方法進(jìn)行預(yù)處理,如去除雜質(zhì)、固定或染色。
樣品切割或研磨:將樣品切割或研磨到合適的大小和形狀,通常需要將樣品固定在一個(gè)金屬或?qū)щ姷鬃稀?/span>
粗加工:使用粗砂紙或金屬切割工具將樣品表面加工平整,以消除表面凹凸不平和不規(guī)則形狀。
微加工:使用細(xì)砂紙或拋光工具進(jìn)一步加工樣品表面,使其表面更加平整和光滑。
清潔和干燥:使用清潔劑清洗樣品表面以去除殘留物和油脂,并將其干燥。
真空處理:將樣品放入掃描電鏡室內(nèi),進(jìn)行真空處理,以消除空氣分子和水分對(duì)電子束的干擾。
制備鍍膜:在樣品表面制備薄的導(dǎo)電涂層或金屬蒸發(fā)鍍膜,以提高樣品的導(dǎo)電性和顯微圖像的質(zhì)量。
SEM觀察:將樣品放入SEM,調(diào)整顯微鏡的參數(shù)(如加速電壓、電子束聚焦、電子束掃描速度等),并獲得高分辨率圖像。
不同的樣品需要不同的制備方法。在制備過(guò)程中,一定要小心謹(jǐn)慎,避免對(duì)樣品造成損害,并確保樣品符合SEM觀察的要求。
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作者:澤攸科技