SEM（掃描電子顯微鏡）是一種可以通過掃描樣品表面并探測所得到的信號來生成高分辨率圖像的電子顯微鏡。在SEM中，樣品表面受到高能電子束的轟擊，從而產生大量的二次電子、反射電子、散射電子等信號。這些信號可以通過電子探測器來接收和轉換為電信號，從而生成圖像。由于SEM具有高分辨率、高靈敏度、大深度等特點，因此在材料科學、生物學、醫學等領域得到了廣泛應用。

對于SEM的動態拍攝，需要根據具體的研究目的選擇合適的操作模式和參數設置。一般來說，SEM可以通過以下幾種方式進行動態拍攝：

視頻模式：可以將SEM所獲得的圖像信號轉換為視頻信號，從而實現對樣品表面的實時觀察和記錄。

掃描模式：可以通過設置掃描參數來控制電子束的掃描范圍和速度，從而實現對樣品表面不同位置的拍攝。

高速攝影模式：可以通過將電子束和樣品表面之間的距離盡量縮短，從而使得電子束的掃描速度變快，進而實現對樣品表面的高速拍攝和動態觀察。

需要注意的是，在SEM的動態拍攝過程中，由于電子束與樣品之間的相互作用，樣品表面可能會受到破壞和損傷，因此需要進行合適的操作和保護措施，以保證樣品表面的完整性和穩定性。

臺式掃描電鏡

總的來說，SEM動態拍攝技術可以為材料科學、生物學、醫學等領域的研究提供有力的支持和幫助。

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