原位掃描電鏡（SEM）基于自主研發的臺式掃描電鏡，集成原位拉伸樣品臺，對樣品進行原位拉伸/壓縮/彎曲的過程中實時觀察樣品表面形貌的變化，拓展了掃描電鏡的應用領域。

原位掃描電鏡（SEM） 采用自主研發的鎢燈絲電子槍，加速電壓在1-15kV范圍內連續可調，搭配二次電子探測器、背散射電子探測器、1000N原位拉伸樣品臺，實現掃描電鏡內的原位拉伸/壓縮/彎曲實驗。

原位拉伸臺參數

載荷范圍：0-1000N

位移分辨率：20nm

加熱模塊：可選

加載功能：拉伸、壓縮、三點彎曲

電鏡主機特色

鼠標.jpg僅需鼠標即可完成所有操作，無須對中光闌等復雜步驟；

亮度/對比度一鍵自適應，自動/手動聚焦;

視頻模式.jpg抽真空時間小于90秒；

標配光學導航，搭配多樣品臺，實現快速找樣及切換樣品；

采集帶寬.jpg信號采集帶寬10M，掃描速度快；

視頻模式下實時觀察樣品，操作流暢，無卡頓；

多探測器.jpg四分割背散射電子探測器（多種成像模式）、二次電子探測器；

BSE+SE 模式（任意比列混合）、集成EDS元素分析功能；

無憂售后.jpg國內生產、銷售、售后一體化服務；

北京、上海、安徽、廣東常駐工程師并提供設備演示；

原位掃描電鏡SEM應用

安徽澤攸科技有限公司擁有一支精通機械、光學、超高真空、電子技術、微納加工技術、軟件開發技術的技術團隊，致力于突破電子顯微鏡制造這一"卡脖子"技術難題，自主研發的ZEM15 原位拉伸-掃描電鏡 結合了電鏡整機及原位樣品臺技術，支持個性化定制，可選原位加熱/冷凍樣品臺、原位力學、原位電學樣品臺等。澤攸科技將持續不斷地優化產品型號及配置，期待與您的合作。

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