掃描電鏡（SEM）通常用于表面分析和成像，通常需要對固體樣品進行高真空處理，而對液體樣品進行掃描電鏡分析前，需要做一些處理，下面是掃描電鏡對液體樣品的處理步驟。

準備樣品：將液體樣品滴在導電的基底上（如碳薄膜、金屬片等），并使其干燥，直到樣品完全干燥，通常可以通過用氮氣吹干樣品來加速干燥過程。

將樣品轉移到SEM樣品支架：在樣品支架上放置干燥后的樣品，并用導電粘性劑固定樣品。注意不要弄濕樣品。

測量樣品：將SEM樣品支架插入掃描電鏡中，確保樣品支架與電子束軸線垂直。使用SEM測量樣品，并記錄成像結果。

需要注意的是，掃描電鏡不適合直接測量液體樣品，因為電子束會導致液體樣品蒸發和損壞。干燥液體樣品并將其固定在導電基底上可以解決這個問題。此外，SEM中的真空環境會導致液體樣品中的水分子蒸發，從而使成像結果出現噪聲。因此，使用掃描電鏡測量液體樣品需要采用一些特殊技術和準備工作。

ZEM15臺式掃描電鏡能譜一體機

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