掃描電鏡如何分析元素組成？
掃描電鏡（SEM）?通過(guò)結(jié)合能譜儀（Energy Dispersive Spectroscopy, EDS 或 EDX）或波譜儀（Wavelength Dispersive Spectroscopy, WDS）等附加設(shè)備，可以實(shí)現(xiàn)對(duì)樣品的元素組成分析。
MORE INFO → 行業(yè)動(dòng)態(tài) 2024-11-19
掃描電鏡（SEM）?通過(guò)結(jié)合能譜儀（Energy Dispersive Spectroscopy, EDS 或 EDX）或波譜儀（Wavelength Dispersive Spectroscopy, WDS）等附加設(shè)備，可以實(shí)現(xiàn)對(duì)樣品的元素組成分析。
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減少掃描電鏡（SEM）?成像中的噪聲可以通過(guò)優(yōu)化儀器設(shè)置、改進(jìn)樣品制備、調(diào)整成像條件以及后期圖像處理等多種方法來(lái)實(shí)現(xiàn)。
MORE INFO → 行業(yè)動(dòng)態(tài) 2024-11-19
校正掃描電鏡 (SEM) ?圖像中的失真是獲取高質(zhì)量成像的關(guān)鍵步驟，尤其在進(jìn)行定量分析或高精度測(cè)量時(shí)尤為重要。
MORE INFO → 行業(yè)動(dòng)態(tài) 2024-11-18
在掃描電鏡 (SEM) ?中，對(duì)樣品施加導(dǎo)電涂層是提高成像質(zhì)量的關(guān)鍵步驟之一，特別是對(duì)于導(dǎo)電性差或非導(dǎo)電性樣品。
MORE INFO → 行業(yè)動(dòng)態(tài) 2024-11-18
掃描電鏡（SEM）?能夠通過(guò)多種技術(shù)獲取樣品的三維（3D）形貌。雖然傳統(tǒng)的SEM圖像通常提供的是樣品表面的二維投影，但通過(guò)一些先進(jìn)的技術(shù)和方法，可以推導(dǎo)出樣品的三維結(jié)構(gòu)。
MORE INFO → 常見(jiàn)問(wèn)題 2024-11-15
在掃描電鏡（SEM）?中，樣品的電荷積累（也稱(chēng)為靜電積累）是一個(gè)常見(jiàn)的問(wèn)題，特別是當(dāng)樣品是非導(dǎo)電性或?qū)щ娦圆顣r(shí)。
MORE INFO → 常見(jiàn)問(wèn)題 2024-11-15
掃描電鏡（SEM）?中的電子束與樣品之間的相互作用是影響成像質(zhì)量的關(guān)鍵因素。
MORE INFO → 行業(yè)動(dòng)態(tài) 2024-11-14
在掃描電鏡（SEM）?中，導(dǎo)電性差的樣品（如非金屬或高電阻材料）會(huì)導(dǎo)致成像問(wèn)題，特別是由于靜電積累。
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